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上海澜芯申请具有BSG侧壁的沟槽超结MOSFET的结构及工艺方法专利,极大的优化本发明SiC MOSFET体二极管的反向恢复特性

0次浏览     发布时间:2025-04-02 18:23:00    

金融界2025年4月2日消息,国家知识产权局信息显示,上海澜芯半导体有限公司申请一项名为“具有BSG侧壁的沟槽超结MOSFET的结构及工艺方法”的专利,公开号CN 119743991 A,申请日期为2024年12月。

专利摘要显示,本发明公开了一种具有BSG侧壁的沟槽超结MOSFET的原胞结构及工艺方法,结合了沟槽和超级结SiC MOSFET原胞结构的优势,极大的降低了SiC MOSFET单位面积比导通电阻(RSPA)。器件的沟槽包含有BSG侧壁,沟槽下方为超结结构的P柱,在过渡区和Gate Bus区域,由于没有JFET注入,可以实现超结P柱通过侧壁P型掺杂和P阱掺杂连接到一起,实现超结P柱和源极电位连接,这样可以极大的优化本发明SiC MOSFET体二极管的反向恢复特性。利用本发明的结构及工艺,可以在统一的SiC工艺平台下生产600~10000V以上MOSFET器件,极大的优化了MOSFET的性能,降低了不同电压SiC MOSFET工艺需要单独开发的成本问题。

天眼查资料显示,上海澜芯半导体有限公司,成立于2022年,位于上海市,是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本10000万人民币,实缴资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析,上海澜芯半导体有限公司财产线索方面有商标信息7条,专利信息10条,此外企业还拥有行政许可1个。

本文源自金融界

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